BEC: Bit-Level Static Analysis for Reliability against Soft Errors

Soft errors are a type of transient digital signal corruption that occurs in digital hardware components such as the internal flip-flops of CPU pipelines, the register file, memory cells, and even internal communication buses. Soft errors are caused by environmental radioactivity, magnetic interfere...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Proceedings / International Symposium on Code Generation and Optimization s. 283 - 295
Hlavní autoři:	Ko, Yousun, Burgstaller, Bernd
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 02.03.2024
Témata:	abstract interpretation Computer architecture fault injection pruning Hardware instruction scheduling LLVM Registers reliability RISC-V Semantics soft errors Software Static analysis Transient analysis
ISSN:	2643-2838
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!