DIALED: Data Integrity Attestation for Low-end Embedded Devices

Verifying integrity of software execution in low-end microcontroller units (MCUs) is a well-known open problem. The central challenge is how to securely detect software exploits with minimal overhead, since these MCUs are designed for low cost, low energy and small size. Some recent work yielded ine...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2021 58th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) s. 313 - 318
Hlavní autoři:	De Oliveira Nunes, Ivan, Jakkamsetti, Sashidhar, Tsudik, Gene
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 05.12.2021
Témata:	Codes Costs Data integrity Design automation Microcontrollers Performance evaluation Runtime
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!