Using Machine Learning Clustering To Find Large Coverage Holes

Identifying large and important coverage holes is a time-consuming process that requires expertise in the design and its verification environment. This paper describes a novel machine learning-based technique for finding large coverage holes when the coverage events are individually defined. The tec...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Proceedings of the 2020 ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD s. 139 - 144
Hlavní autori: Gal, Raviv, Simchoni, Giora, Ziv, Avi
Médium: Konferenčný príspevok..
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: ACM 16.11.2020
Predmet:
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.