Combining deterministic and genetic approaches for sequential circuit test generation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Proceedings of the 32nd annual ACM/IEEE Design Automation Conference S. 183 - 188
Hauptverfasser:	Rudnick, Elizabeth M., Patel, Janak H.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New York, NY, USA ACM 01.01.1995
Schriftenreihe:	ACM Conferences
Schlagworte:	Hardware > Hardware test > Test-pattern generation and fault simulation Hardware > Integrated circuits > Logic circuits > Sequential circuits
ISBN:	0897917251, 9780897917254
Online-Zugang:	Volltext
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