Evolutionary Optimization of Markov Sources for Pseudo Random Scan BIST

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, Automation and Test in Europe - Volume 1; 03-07 Mar. 2003 s. 11184
Hlavní autoři:	Polian, Ilia, Becker, Bernd, Reddy, Sudhakar M.
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Washington, DC, USA IEEE Computer Society 03.03.2003
Edice:	ACM Conferences
Témata:	Hardware > Hardware test Hardware > Robustness Mathematics of computing > Probability and statistics > Probabilistic representations > Markov networks Mathematics of computing > Probability and statistics > Stochastic processes > Markov processes Theory of computation > Formal languages and automata theory Theory of computation > Theory and algorithms for application domains > Machine learning theory > Markov decision processes
ISBN:	0769518702, 9780769518701
ISSN:	1530-1591
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!