Location is Key: Leveraging LLM for Functional Bug Localization in Verilog Design

In Verilog code design, identifying and locating functional bugs is an important yet challenging task. Existing automatic bug localization methods have limited capabilities; they only suggest a set of potential buggy lines rather than precisely identifying the bug. Moreover, they depend on verificat...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:2025 62nd ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) s. 1 - 7
Hlavní autoři: Yao, Bingkun, Wang, Ning, Zhou, Jie, Wang, Xi, Gao, Hong, Jiang, Zhe, Guan, Nan
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: IEEE 22.06.2025
Témata:
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.