Location is Key: Leveraging LLM for Functional Bug Localization in Verilog Design
In Verilog code design, identifying and locating functional bugs is an important yet challenging task. Existing automatic bug localization methods have limited capabilities; they only suggest a set of potential buggy lines rather than precisely identifying the bug. Moreover, they depend on verificat...
Uloženo v:
| Vydáno v: | 2025 62nd ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) s. 1 - 7 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , , , |
| Médium: | Konferenční příspěvek |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
IEEE
22.06.2025
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!