X-ray diffraction at elevated temperatures. A method for in situ process analysis /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New York :
VCH Publishers,
1993
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| Ausgabe: | [1st ed.] |
| Schlagworte: | |
| ISBN: | 0895737450 |
| Online-Zugang: |
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Online
CVTI sklad absenčný
| Signatur: |
A547511 |
|---|---|
| Exemplar | On Shelf |