Self-testing VLSI design /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Yarmolik, Viacheslav Nikolaevich
Weitere Verfasser: Kachan, I. V.
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Amsterdam : Elsevier, 1993
Ausgabe:[1st ed.]
Schlagworte:
ISBN:0444896406
Online-Zugang: Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617172143.0
008 940127s1993 ne e ||||||eng d
020 |a 0444896406 
035 |a CVTIDW0917259 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 621.382.049.771.14  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Yarmolik, Viacheslav Nikolaevich 
242 1 0 |a Navrhovanie samotestovacích VLSI obvodov 
245 1 0 |a Self-testing VLSI design /  |c Viacheslav Nikolaevich Yarmolik, I. V. Kachan 
250 |a [1st ed.] 
260 |a Amsterdam :  |b Elsevier,  |c 1993 
300 |a XI, 345 s. :  |b grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a mikroelektronika  |a náhodné testovanie  |a pseudonáhodné testovanie 
700 1 |a Kachan, I. V. 
910 |b A540763 
919 |a 0-444-89640-6 
974 |f Knihy 
992 |a AMG 
999 |c 77749  |d 77749