Yarmolik, V. N., & Kachan, I. V. (1993). Self-testing VLSI design ([1st ed.].). Elsevier.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Yarmolik, Viacheslav Nikolaevich, und I. V. Kachan. Self-testing VLSI Design. [1st ed.]. Amsterdam: Elsevier, 1993.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Yarmolik, Viacheslav Nikolaevich, und I. V. Kachan. Self-testing VLSI Design. [1st ed.]. Elsevier, 1993.
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