High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliabilit...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wang, Zheng (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Singapore : Springer Singapore , 2018.
Ausgabe:1st ed. 2018.
Schriftenreihe:Computer Architecture and Design Methodologies,
Schlagworte:
ISBN:9789811010736
ISSN:2367-3478
Online-Zugang: Volltext
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