Field Emission Scanning Electron Microscopy New Perspectives for Materials Characterization /

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron mi...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Hlavní autor:	Brodusch, Nicolas (Autor)
Médium:	Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Singapore : Springer Singapore , 2018.
Vydání:	1st ed. 2018.
Edice:	SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology,
Témata:	Materials science. Spectroscopy. Microscopy. Nanotechnology.
ISBN:	9789811044335
ISSN:	2191-530X
On-line přístup:
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!