Field Emission Scanning Electron Microscopy New Perspectives for Materials Characterization /

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron mi...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Brodusch, Nicolas (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Singapore : Springer Singapore , 2018.
Ausgabe:1st ed. 2018.
Schriftenreihe:SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology,
Schlagworte:
ISBN:9789811044335
ISSN:2191-530X
Online-Zugang: Volltext
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