Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals A Scanning Probe Microscopy Approach /
This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization. The isolation of graphene and, sho...
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Cham :
Springer International Publishing,
2018.
|
| Vydání: | 1st ed. 2018. |
| Edice: | Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research,
|
| Témata: | |
| ISBN: | 9783319701813 |
| ISSN: | 2190-5053 |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|

