Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals A Scanning Probe Microscopy Approach /

This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers' understanding and visualization. The isolation of graphene and, sho...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Kay, Nicholas D. (Autor)
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Cham : Springer International Publishing, 2018.
Vydání:1st ed. 2018.
Edice:Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research,
Témata:
ISBN:9783319701813
ISSN:2190-5053
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Internet

Získat plný text

CVTI internet

Informace o exemplářích z: CVTI internet
Signatura: ZE09223
Jednotka On Shelf