Design and test technology for dependable systems-on-chip /

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Ubar, Raimund 1941- (HerausgeberIn), Raik, Jaan, 1972- (HerausgeberIn), Vierhaus, Heinrich Theodor (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hershey, PA : IGI Global, 2011
Schlagworte:
vstavaný systém
vstavaný mikroprocesor
digitálny systém
diagnostické modelovanie
simulácia chýb
testovanie pamäte
elektronické dokumenty
odborné publikácie
ISBN:9781609602147
Online-Zugang: Volltext
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Beschreibung
ISBN:9781609602147

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