Ubar, R., Raik, J., & Vierhaus, H. T. (2011). Design and test technology for dependable systems-on-chip. IGI Global.
Citace podle Chicago (17th ed.)Ubar, Raimund, Jaan Raik, a Heinrich Theodor Vierhaus. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip. Hershey, PA: IGI Global, 2011.
Citace podle MLA (9th ed.)Ubar, Raimund, et al. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip. IGI Global, 2011.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..