Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Strong, Alvin W. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Piscataway : IEEE Press, 2009
Ausgabe:[1st ed.]
Schriftenreihe:Series on microelectronic systems
Schlagworte:
technológia CMOS > spoľahlivosť mechanizmov > elektrická prieraznosť > opotrebenie > komplementárny polovodič s kovovým oxidom > tepelná nestálosť > elektromigrácia
ISBN:9780471731726
Online-Zugang: Volltext
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