Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies /

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Strong, Alvin W. (Autor)
Médium:	Kniha
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	Piscataway : IEEE Press, 2009
Vydanie:	[1st ed.]
Edícia:	Series on microelectronic systems
Predmet:	technológia CMOS > spoľahlivosť mechanizmov > elektrická prieraznosť > opotrebenie > komplementárny polovodič s kovovým oxidom > tepelná nestálosť > elektromigrácia
ISBN:	9780471731726
On-line prístup:
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Internet

Informace o exemplářích z: CVTI sklad absenčný
Signatúra:	A610400
Exemplár	Dostupný