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9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002 /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Yue, John T.
Körperschaft:	Proceedings
Weitere Verfasser:	Thong, J. (HerausgeberIn)
Format:	Tagungsbericht Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002
Ausgabe:	[1st ed.]
Schlagworte:	elektronika > elektrotechnika > polovodič > prístroj > poškodenie
ISBN:	0780374169
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