9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Yue, John T.
Korporativní autor: Proceedings
Další autoři: Thong, J. (Editor)
Médium: Konferenční příspěvek Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002
Vydání:[1st ed.]
Témata:
ISBN:0780374169
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
003 SK-BrCVT
005 20220617205400.0
008 020903s2002 xxu e ||||||eng d
020 |a 0780374169 
035 |a CVTIDW0964917 
040 |b slo  |a CVTI SR 
041 0 |a eng 
044 |a xxu 
080 |a 621.3.049.77:53  |2 UDC-MRF 
100 1 |a Yue, John T. 
111 0 |a Proceedings  |n (Singapore)  |f 8 - 12 July 2002 
242 1 0 |a Zborník z 9. medzinárodného sympózia zameraného na fyzikálnu analýzu a analýzu chýb integrovaných obvodov 
245 1 0 |a 9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits :  |b Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002 /  |c Authors: John T. Yue and Co. ; Red.: J. Thong and Co. 
250 |a [1st ed.] 
260 |a Piscataway :  |b Institute of Electrical and Electronics Engineers,  |c 2002 
300 |a 258 s. :  |b fotogr., grafy, lit., obr., tab. ; 
653 1 |a elektronika  |a elektrotechnika  |a polovodič  |a prístroj  |a poškodenie 
692 |a GM DD JM MM 
700 1 |a Thong, J.  |4 edt 
910 |b A584005 
919 |a 0-7803-7416-9 
974 |f Knihy 
992 |a AZN 
999 |c 121176  |d 121176