9th international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : Proceedings, Singapore, 8 - 12 July 2002 /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Yue, John T.
Korporativní autor: Proceedings
Další autoři: Thong, J. (Editor)
Médium: Konferenční příspěvek Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002
Vydání:[1st ed.]
Témata:
ISBN:0780374169
On-line přístup: Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
Fyzický popis:258 s. : fotogr., grafy, lit., obr., tab. ;
ISBN:0780374169