Defect and fault tolerance in VLSI systems : the IEEE international workshop, Lafayette, Louisiana, Nov. 13 - 15, 1995 /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Duvivier, F.
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 1995
Vydanie:[1st ed.]
Predmet:
analýza kritickej oblasti > hierarchická extrakcia > obvod > architektúra odolná voči chybám > metóda zisťovania chýb > kódovanie
zborníky
ISBN:0818671076
ISSN:1063-6722
On-line prístup: Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.

Podobné jednotky