Defect and fault tolerance in VLSI systems : the IEEE international workshop, Lafayette, Louisiana, Nov. 13 - 15, 1995 /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Los Alamitos :
IEEE Computer Society Press,
1995
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| Ausgabe: | [1st ed.] |
| Schlagworte: | |
| ISBN: | 0818671076 |
| ISSN: | 1063-6722 |
| Online-Zugang: |
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| Signatur: |
A553202 |
|---|---|
| Exemplar | On Shelf |