Defect and fault tolerance in VLSI systems : the IEEE international workshop, Lafayette, Louisiana, Nov. 13 - 15, 1995 /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Los Alamitos :
IEEE Computer Society Press,
1995
|
| Vydání: | [1st ed.] |
| Témata: | |
| ISBN: | 0818671076 |
| ISSN: | 1063-6722 |
| On-line přístup: |
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | SK-BrCVT | ||
| 005 | 20220617200017.0 | ||
| 008 | 960503s1995 xxu e ||||||eng d | ||
| 020 | |a 0818671076 | ||
| 022 | |a 1063-6722 | ||
| 035 | |a CVTIDW0937647 | ||
| 040 | |b slo |a CVTI SR | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a xxu | ||
| 080 | |a 621.382.049.771.14:681.3 |2 UDC-MRF | ||
| 100 | 1 | |a Duvivier, F. | |
| 242 | 1 | 0 | |a Poruchy a odolnosť systémov VLSI. Závery z medzinárodného seminára IEEE 1995 |
| 245 | 1 | 0 | |a Defect and fault tolerance in VLSI systems : |b the IEEE international workshop, Lafayette, Louisiana, Nov. 13 - 15, 1995 / |c authors: F. Duvivier ... [et al.] |
| 250 | |a [1st ed.] | ||
| 260 | |a Los Alamitos : |b IEEE Computer Society Press, |c 1995 | ||
| 300 | |a X, 305 s. : |b grafy, lit., obr., tab. ; | ||
| 653 | 1 | |a analýza kritickej oblasti |a hierarchická extrakcia |a obvod |a architektúra odolná voči chybám |a metóda zisťovania chýb |a kódovanie | |
| 655 | 4 | |a zborníky | |
| 692 | |a GM VD PO MM | ||
| 910 | |b A553202 | ||
| 919 | |a 0-8186-7107-6 | ||
| 974 | |f Knihy | ||
| 992 | |a AZN | ||
| 999 | |c 105674 |d 105674 | ||