Electromigration and electronic device degradation /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Christou, Aris
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: New York : John Wiley & Sons, 1994
Vydanie:[1st ed.]
Predmet:
ISBN:0471584894
On-line prístup: Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

Internet

Získať plný text

CVTI sklad absenčný

Informace o exemplářích z: CVTI sklad absenčný
Signatúra: A553579
Exemplár Dostupný