(2024). Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1
Citace podle Chicago (17th ed.)Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.
Citace podle MLA (9th ed.)Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей. 2024. https://doi.org/10.52065/2520-6729-2024-279-1.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..