Bibliographische Detailangaben
| Titel: |
Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей |
| Verlagsinformationen: |
БГТУ, 2024. |
| Publikationsjahr: |
2024 |
| Schlagwörter: |
микроструктура бумаги, качество печатной продукции, атомно-силовая микроскопия, шероховатость, фрактальная размерность, профилометрия |
| Beschreibung: |
В статье представлен сравнительный анализ методов атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых материалов. С помощью сканирующего зондового микроскопа Solver HV, работающего в полуконтактном режиме, и профилометра-профилографа Hommel Tester T1000 получены профилограммы рельефа поверхности образцов бумаги. В качестве объекта исследования выступали четыре образца бумаги с различным композиционным составом. Приведены параметры шероховатости поверхности образцов бумаги, полученные с помощью атомно-силового микроскопа и профилометра, а также рассчитаны фрактальные размерности структуры бумаги. Применяемые методы исследования позволяют в равной мере использовать их для оценки стохастической структуры запечатываемых поверхностей, хотя метод атомно-силовой микроскопии является более точным, в то время как профилометр передает только общий контур рельефа. При использовании атомно-силовой микроскопии более точные результаты обеспечивает топографическое изображение поверхности образцов бумаги для кадра 3500 нм. Применяемые подходы позволяют учесть вклад структуры материала в распределение красочного слоя, что в конечном итоге окажет влияние на качество печатной продукции |
| Publikationsart: |
Article |
| Dateibeschreibung: |
application/pdf |
| Sprache: |
Russian |
| DOI: |
10.52065/2520-6729-2024-279-1 |
| Zugangs-URL: |
https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574 |
| Dokumentencode: |
edsair.od......3992..c7bf7d10f2f79c339f10f18a5a142c07 |
| Datenbank: |
OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science