ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Název: ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ
Informace o vydavateli: Zenodo, 2025.
Rok vydání: 2025
Témata: поверхностно-активные вещества (ПАВ), критическая концентрация мицеллообразования (ККМ), мицеллообразование, измерение поверхностного натяжения, электропроводность, оптическая плотность, структура ПАВ, температура раствора
Popis: В статье рассматриваются методы определения критической концентрации мицеллообразования (ККМ) в растворах поверхностно-активных веществ (ПАВ). Анализируются различные экспериментальные подходы, включая измерение поверхностного натяжения, проводимости и оптической плотности растворов. Полученные данные позволяют оценить влияние структуры ПАВ, температуры и состава среды на значение ККМ. Точное определение ККМ является ключевым для понимания мицеллярных свойств ПАВ и оптимизации их применения в моющих средствах, фармацевтике и других областях промышленности.
Druh dokumentu: Article
DOI: 10.5281/zenodo.15710994
Rights: CC BY
Přístupové číslo: edsair.doi...........e01f76209e9d9186a2a3ff272248663d
Databáze: OpenAIRE
Popis
Abstrakt:В статье рассматриваются методы определения критической концентрации мицеллообразования (ККМ) в растворах поверхностно-активных веществ (ПАВ). Анализируются различные экспериментальные подходы, включая измерение поверхностного натяжения, проводимости и оптической плотности растворов. Полученные данные позволяют оценить влияние структуры ПАВ, температуры и состава среды на значение ККМ. Точное определение ККМ является ключевым для понимания мицеллярных свойств ПАВ и оптимизации их применения в моющих средствах, фармацевтике и других областях промышленности.
DOI:10.5281/zenodo.15710994