Bibliographic Details
| Title: |
ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ |
| Publisher Information: |
Zenodo, 2025. |
| Publication Year: |
2025 |
| Subject Terms: |
поверхностно-активные вещества (ПАВ), критическая концентрация мицеллообразования (ККМ), мицеллообразование, измерение поверхностного натяжения, электропроводность, оптическая плотность, структура ПАВ, температура раствора |
| Description: |
В статье рассматриваются методы определения критической концентрации мицеллообразования (ККМ) в растворах поверхностно-активных веществ (ПАВ). Анализируются различные экспериментальные подходы, включая измерение поверхностного натяжения, проводимости и оптической плотности растворов. Полученные данные позволяют оценить влияние структуры ПАВ, температуры и состава среды на значение ККМ. Точное определение ККМ является ключевым для понимания мицеллярных свойств ПАВ и оптимизации их применения в моющих средствах, фармацевтике и других областях промышленности. |
| Document Type: |
Article |
| DOI: |
10.5281/zenodo.15710994 |
| Rights: |
CC BY |
| Accession Number: |
edsair.doi...........e01f76209e9d9186a2a3ff272248663d |
| Database: |
OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science