Diffraction Characterization based on Zero-level Diffraction Grating Structure

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Název: Diffraction Characterization based on Zero-level Diffraction Grating Structure
Autoři: Boyong Zhang, Yaqi Hu, Zepan Tong
Zdroj: 2024 4th International Conference on Electronic Information Engineering and Computer Science (EIECS). :452-456
Informace o vydavateli: IEEE, 2024.
Rok vydání: 2024
Druh dokumentu: Article
DOI: 10.1109/eiecs63941.2024.10800108
Rights: STM Policy #29
Přístupové číslo: edsair.doi...........d47e8ce52df9d9a70484dc1a8cd9b81d
Databáze: OpenAIRE
Popis
DOI:10.1109/eiecs63941.2024.10800108