Enhanced YOLOv8 Model for Insulator Defect Detection using Generalized Loss and Depthwise Convolution Techniques
Uloženo v:
| Název: | Enhanced YOLOv8 Model for Insulator Defect Detection using Generalized Loss and Depthwise Convolution Techniques |
|---|---|
| Autoři: | Song Yang, Ming Liu, Xinqiang Wu, Qi Cao, Haolin Li, Feng Wang |
| Zdroj: | 2024 5th International Conference on Artificial Intelligence and Computer Engineering (ICAICE). :1093-1097 |
| Informace o vydavateli: | IEEE, 2024. |
| Rok vydání: | 2024 |
| Druh dokumentu: | Article |
| DOI: | 10.1109/icaice63571.2024.10864178 |
| Rights: | STM Policy #29 |
| Přístupové číslo: | edsair.doi...........2fed2d155aaec04fc57fa36a83e41741 |
| Databáze: | OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!