Enhanced YOLOv8 Model for Insulator Defect Detection using Generalized Loss and Depthwise Convolution Techniques

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Název: Enhanced YOLOv8 Model for Insulator Defect Detection using Generalized Loss and Depthwise Convolution Techniques
Autoři: Song Yang, Ming Liu, Xinqiang Wu, Qi Cao, Haolin Li, Feng Wang
Zdroj: 2024 5th International Conference on Artificial Intelligence and Computer Engineering (ICAICE). :1093-1097
Informace o vydavateli: IEEE, 2024.
Rok vydání: 2024
Druh dokumentu: Article
DOI: 10.1109/icaice63571.2024.10864178
Rights: STM Policy #29
Přístupové číslo: edsair.doi...........2fed2d155aaec04fc57fa36a83e41741
Databáze: OpenAIRE
Popis
DOI:10.1109/icaice63571.2024.10864178