СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС
Uložené v:
| Názov: | СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС |
|---|---|
| Informácie o vydavateľovi: | Датчики и системы, 2019. |
| Rok vydania: | 2019 |
| Predmety: | analog-to-digital converter, надежность СБИС, измерение температуры, аналого-цифровой преобразователь, temperature measurement, VLSI reliability |
| Popis: | Представлена система измерения температуры микропроцессора с температурным датчиком на основе двух p - n -переходов в прямом смещении, работающих при разных плотностях тока. Аналоговый сигнал с датчика температуры обрабатывается с помощью 10-разрядного АЦП и специализированного контроллера. Система измерения температуры кристалла реализована по технологии КМОП с проектными нормами 65 нм и предназначена для использования в условиях воздействия внешних факторов. A microprocessor temperature measurement system with a temperature sensor based on two p - n -junctions in forward bias operating at different current densities is presented. An analog signal from the temperature sensor is processed using a 10-bit ADC and a dedicated controller. The crystal temperature measurement system is implemented using CMOS technology with design standards of 65 nm and is intended for use under the influence of external factors №6(237) (2020) |
| Druh dokumentu: | Article |
| Jazyk: | Russian |
| DOI: | 10.25728/datsys.2019.6.4 |
| Prístupové číslo: | edsair.doi...........2afca962e10cae964ea0ebeaa8d0f21e |
| Databáza: | OpenAIRE |
Nájsť tento článok vo Web of Science | Abstrakt: | Представлена система измерения температуры микропроцессора с температурным датчиком на основе двух p - n -переходов в прямом смещении, работающих при разных плотностях тока. Аналоговый сигнал с датчика температуры обрабатывается с помощью 10-разрядного АЦП и специализированного контроллера. Система измерения температуры кристалла реализована по технологии КМОП с проектными нормами 65 нм и предназначена для использования в условиях воздействия внешних факторов.<br />A microprocessor temperature measurement system with a temperature sensor based on two p - n -junctions in forward bias operating at different current densities is presented. An analog signal from the temperature sensor is processed using a 10-bit ADC and a dedicated controller. The crystal temperature measurement system is implemented using CMOS technology with design standards of 65 nm and is intended for use under the influence of external factors<br />№6(237) (2020) |
|---|---|
| DOI: | 10.25728/datsys.2019.6.4 |