Modelling SoC devices for virtual test using VHDL

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe S. 770 - 771
Hauptverfasser:	Rona, M., Krampl, G.
Format:	Tagungsbericht
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ, USA IEEE Press 13.03.2001
Schriftenreihe:	ACM Conferences
Schlagworte:	Computing methodologies > Modeling and simulation > Simulation types and techniques > Discrete-event simulation Hardware > Hardware test Hardware > Integrated circuits > Logic circuits Hardware > Robustness
ISBN:	9780769509938, 0769509932
Online-Zugang:	Volltext
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