Absorbed dose threshold for single-layer ZrO2, HfO2, and Al2O3 dielectric coatings at 355 nm
This study investigates ultraviolet laser-induced fatigue and absorptance dynamics in single-layer Al2O3, HfO2, and ZrO2 dielectric coatings on fused silica substrates using 355 nm, 10 ps pulses at a repetition rate of 1 MHz. Laser-induced damage threshold testing, combined with photothermal common-...
Uložené v:
| Vydané v: | Optics letters Ročník 50; číslo 16; s. 4910 |
|---|---|
| Hlavní autori: | , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
15.08.2025
|
| ISSN: | 1539-4794, 1539-4794 |
| On-line prístup: | Zistit podrobnosti o prístupe |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!