Atkočaitis, E., & Melninkaitis, A. (2025). Absorbed dose threshold for single-layer ZrO2, HfO2, and Al2O3 dielectric coatings at 355 nm. Optics letters, 50(16), 4910. https://doi.org/10.1364/OL.566304
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Atkočaitis, Erikas, und Andrius Melninkaitis. "Absorbed Dose Threshold for Single-layer ZrO2, HfO2, and Al2O3 Dielectric Coatings at 355 nm." Optics Letters 50, no. 16 (2025): 4910. https://doi.org/10.1364/OL.566304.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Atkočaitis, Erikas, und Andrius Melninkaitis. "Absorbed Dose Threshold for Single-layer ZrO2, HfO2, and Al2O3 Dielectric Coatings at 355 nm." Optics Letters, vol. 50, no. 16, 2025, p. 4910, https://doi.org/10.1364/OL.566304.
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