Possible Approaches to Organizing Self-Test of a Self-Routing Analog-To-Digital Converter Based on a Neural Network

The article provides a review of the literature on the development of a self-routing analog-to-digital converter (ADC) based on a neural network (SRADC NN). The advantages and disadvantages of SRADC NN are described. Approaches to the implementation of self-testing algorithms of the device are propo...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	IEEE NW Russia Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering Conference s. 391 - 394
Hlavní autoři:	Naborshchikov, Anton A., Yuzhakov, Alexander A., Posyagin, Anton I.
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 25.01.2022
Témata:	Aging analog-to-digital converter Artificial neural networks Built-in self-test Capacitance Costs fault tolerance Hardware majorization neural network Resistors self-test system
ISSN:	2376-6565
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!