Special Session: Fault Criticality Assessment in AI Accelerators

The ubiquitous application of deep neural networks (DNN) has led to a rise in demand for AI accelerators. DNN-specific functional criticality analysis identifies faults that cause measurable and significant deviations from acceptable requirements such as the inferencing accuracy. This paper examines...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Proceedings - IEEE VLSI Test Symposium s. 1 - 4
Hlavní autoři:	Chaudhuri, Arjun, Talukdar, Jonti, Chakrabarty, Krishnendu
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 25.04.2022
Témata:	AI accelerators Deep learning Fault diagnosis Neural networks Supervised learning Training Very large scale integration
ISSN:	2375-1053
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!