Large scale metric learning from equivalence constraints

In this paper, we raise important issues on scalability and the required degree of supervision of existing Mahalanobis metric learning methods. Often rather tedious optimization procedures are applied that become computationally intractable on a large scale. Further, if one considers the constantly...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	2012 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition s. 2288 - 2295
Hlavní autoři:	Kostinger, M., Hirzer, M., Wohlhart, P., Roth, P. M., Bischof, H.
Médium:	Konferenční příspěvek
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	IEEE 01.06.2012
Témata:	Benchmark testing Measurement Optimization Scalability Support vector machines Training
ISBN:	9781467312264, 1467312266
ISSN:	1063-6919, 1063-6919
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!