Analytical Modeling and Numerical Simulation of Nonlinear Thermal Effects in Bipolar Transistors

This paper addresses the problem of modeling nonlinear thermal effects in bipolar transistors under static conditions. The impact of these effects on the thermal resistance is explained in detail and analytically modeled using the assumption of a single-semiconductor device. FEM thermal simulations...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Collection of papers presented at the ... International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems S. 1 - 7
Hauptverfasser: D'Alessandro, Vincenzo, Scognamillo, Ciro, Catalano, Antonio Pio, Muller, Markus, Schroter, Michael, Zampardi, Peter J., Codecasa, Lorenzo
Format: Tagungsbericht
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IEEE 28.09.2022
Schlagworte:
ISSN:2474-1523
Online-Zugang:Volltext
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