VAST contest dataset use in education

The IEEE Visual Analytics Science and Technology (VAST) Symposium has held a contest each year since its inception in 2006. These events are designed to provide visual analytics researchers and developers with analytic challenges similar to those encountered by professional information analysts. The...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:2009 IEEE Symposium on Visual Analytics Science and Technology s. 115 - 122
Hlavní autoři: Whiting, M.A., North, C., Endert, A., Scholtz, J., Haack, J., Varley, C., Thomas, J.
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: IEEE 01.10.2009
Témata:
ISBN:9781424452835, 142445283X
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.