Wave-Based Neural Network with Attention Mechanism for Damage Localization in Materials

Cracks are omnipresent in materials and lead to billions of dollars in losses annually due to catastrophic and spectacular failures. Nondestructive wave-based methods are used to identify cracks, but these methods are cumbersome and require experts, leading to limited investigation. This research pr...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Proceedings (IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation) s. 122 - 129
Hlavní autoři: Moreh, Fatahlla, Hasan, Yusuf, Rizvi, Zarghaam Haider, Wuttke, Frank, Tomforde, Sven
Médium: Konferenční příspěvek
Jazyk:angličtina
Vydáno: IEEE 18.12.2024
Témata:
ISSN:1946-0759
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.