Wave-Based Neural Network with Attention Mechanism for Damage Localization in Materials

Cracks are omnipresent in materials and lead to billions of dollars in losses annually due to catastrophic and spectacular failures. Nondestructive wave-based methods are used to identify cracks, but these methods are cumbersome and require experts, leading to limited investigation. This research pr...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Proceedings (IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation) s. 122 - 129
Hlavní autori: Moreh, Fatahlla, Hasan, Yusuf, Rizvi, Zarghaam Haider, Wuttke, Frank, Tomforde, Sven
Médium: Konferenčný príspevok..
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: IEEE 18.12.2024
Predmet:
ISSN:1946-0759
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.