Optimum Life Test Plans of Electrical Insulation for Thermal Stress

We search for the optimum life test plans of electrical insulation for thermal stress assuming that the Arrhenius law holds between the thermal stress and the lifetime, and that the logarithmic lifetime follows some consistent probability distributions at a constant stress. The optimization target i...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Lecture notes in engineering and computer science Ročník 2; s. 668 - 672
Hlavní autori: Hirose, Hideo, Sakumura, Takenori, Tabuchi, Naoki, Kiyosue, Takeru
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: 01.01.2014
Predmet:
ISBN:9789881925336, 9881925339
ISSN:2078-0958, 2078-0966
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.