Optimum Life Test Plans of Electrical Insulation for Thermal Stress

We search for the optimum life test plans of electrical insulation for thermal stress assuming that the Arrhenius law holds between the thermal stress and the lifetime, and that the logarithmic lifetime follows some consistent probability distributions at a constant stress. The optimization target i...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Lecture notes in engineering and computer science Jg. 2; S. 668 - 672
Hauptverfasser: Hirose, Hideo, Sakumura, Takenori, Tabuchi, Naoki, Kiyosue, Takeru
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: 01.01.2014
Schlagworte:
ISBN:9789881925336, 9881925339
ISSN:2078-0958, 2078-0966
Online-Zugang:Volltext
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