Optimum Life Test Plans of Electrical Insulation for Thermal Stress

We search for the optimum life test plans of electrical insulation for thermal stress assuming that the Arrhenius law holds between the thermal stress and the lifetime, and that the logarithmic lifetime follows some consistent probability distributions at a constant stress. The optimization target i...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Lecture notes in engineering and computer science Ročník 2; s. 668 - 672
Hlavní autoři:	Hirose, Hideo, Sakumura, Takenori, Tabuchi, Naoki, Kiyosue, Takeru
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	01.01.2014
Témata:	Confidence intervals Constants Electrical insulation Error analysis Optimization Stresses Test procedures Thermal stresses
ISBN:	9789881925336, 9881925339
ISSN:	2078-0958, 2078-0966
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!