Degradation modeling and remaining useful life prediction for electronic device under multiple stress influences

Power driver devices have functions such as current amplification and power conversion, making them key components of electronic systems. Their degradation is affected by multiple types of stress, making it difficult to establish an accurate degradation model. To monitor the degradation state of ele...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Scientific reports Ročník 15; číslo 1; s. 19117 - 16
Hlavní autoři: Li, Changjun, Cheng, Jinjun, Zhu, Haizhen, Wen, Bincheng, Zhao, Xin, Kang, Weijie
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: London Nature Publishing Group UK 31.05.2025
Nature Publishing Group
Nature Portfolio
Témata:
ISSN:2045-2322, 2045-2322
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.