Combined scheduling algorithm for re-entrant batch-processing machines in semiconductor wafer manufacturing

In this paper, a new combined scheduling algorithm is proposed to address the problem of minimising total weighted tardiness on re-entrant batch-processing machines (RBPMs) with incompatible job families in the semiconductor wafer fabrication system (SWFS). The general combined scheduling algorithm...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of production research Jg. 53; H. 6; S. 1866 - 1879
Hauptverfasser: Jia, Wenyou, Jiang, Zhibin, Li, You
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: London Taylor & Francis 19.03.2015
Taylor & Francis LLC
Schlagworte:
ISSN:0020-7543, 1366-588X
Online-Zugang:Volltext
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