Probing the accuracy and precision of Hirshfeld atom refinement with HARt interfaced with Olex2

Hirshfeld atom refinement (HAR) is a novel X-ray structure refinement technique that employs aspherical atomic scattering factors obtained from stockholder partitioning of a theoretically determined tailor-made static electron density. HAR overcomes many of the known limitations of independent atom...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IUCrJ Ročník 5; číslo 1; s. 32 - 44
Hlavní autoři: Fugel, Malte, Jayatilaka, Dylan, Hupf, Emanuel, Overgaard, Jacob, Hathwar, Venkatesha R., Macchi, Piero, Turner, Michael J., Howard, Judith A. K., Dolomanov, Oleg V., Puschmann, Horst, Iversen, Bo B., Bürgi, Hans-Beat, Grabowsky, Simon
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: England International Union of Crystallography 01.01.2018
Témata:
ISSN:2052-2525, 2052-2525
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.