Probing the accuracy and precision of Hirshfeld atom refinement with HARt interfaced with Olex2

Hirshfeld atom refinement (HAR) is a novel X-ray structure refinement technique that employs aspherical atomic scattering factors obtained from stockholder partitioning of a theoretically determined tailor-made static electron density. HAR overcomes many of the known limitations of independent atom...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IUCrJ Jg. 5; H. 1; S. 32 - 44
Hauptverfasser: Fugel, Malte, Jayatilaka, Dylan, Hupf, Emanuel, Overgaard, Jacob, Hathwar, Venkatesha R., Macchi, Piero, Turner, Michael J., Howard, Judith A. K., Dolomanov, Oleg V., Puschmann, Horst, Iversen, Bo B., Bürgi, Hans-Beat, Grabowsky, Simon
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: England International Union of Crystallography 01.01.2018
Schlagworte:
ISSN:2052-2525, 2052-2525
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!